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共享标准校正表的平行测试系统及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200710196560.9
  • IPC分类号:H04L1/24;G01R31/00
  • 申请日期:
    2007-11-29
  • 申请人:
    纮华电子科技(上海)有限公司
著录项信息
专利名称共享标准校正表的平行测试系统及方法
申请号CN200710196560.9申请日期2007-11-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2009-06-10公开/公告号CN101453279
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04L1/24IPC分类号H;0;4;L;1;/;2;4;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人纮华电子科技(上海)有限公司申请人地址
上海市嘉定区马陆镇陈宝路66弄8号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人纮华电子科技(上海)有限公司当前权利人纮华电子科技(上海)有限公司
发明人赵高峰
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司代理人梁挥;祁建国
摘要
本发明公开了一种共享标准校正表的平行测试系统及方法,该系统包括:一储存单元、多个测试平台及一服务器。其中,储存单元用以储存该标准校正表,而测试平台为实行测试的设备,用以依据该标准校正表来分别测试一待测物。而服务器则连接该储存单元及该些测试平台,用以提供该标准校正表给该些测试平台,并进行累积记录该些测试平台在测试该待测物之后所产生的一校正数据,进而服务器再将该校正数据进行一加权运算以更新该标准校正表。借此,以达到加速标准校正表收敛速度的目的。

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