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一种双狭缝切换的二维高分辨率光谱仪光学系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711063800.8
  • IPC分类号:G01J3/28;G01J3/02;G01J3/04
  • 申请日期:
    2017-11-02
  • 申请人:
    钢研纳克检测技术股份有限公司
著录项信息
专利名称一种双狭缝切换的二维高分辨率光谱仪光学系统
申请号CN201711063800.8申请日期2017-11-02
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-04-20公开/公告号CN107941336A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J3/28IPC分类号G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;0;4查看分类表>
申请人钢研纳克检测技术股份有限公司申请人地址
北京市海淀区高粱桥斜街13号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人钢研纳克检测技术股份有限公司当前权利人钢研纳克检测技术股份有限公司
发明人曹海霞;何淼;赵英飞;夏钟海
代理机构北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙)代理人张小娟
摘要
本发明属于光学系统设计、光学仪器技术领域,特别是一种双狭缝切换的二维高分辨光谱仪光学系统,包括光源(1)、前置光路(2)、双狭缝切换机构和分光系统;双狭缝切换机构包括可调整的切换棱镜(3)、第一狭缝(4)和第二狭缝(5),分光系统包括准直镜(7)、分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)、面阵CCD(11);从第一狭缝(4)或第二狭缝(5)出射的光束经准直镜(7)准直为平行光束,经分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)反射聚焦至探测器的面阵CCD(11),面阵CCD(11)能够分别接收短波波段和长波波段两个波段的光谱信息。该系统具有高光谱分辨率、短波波段系统光通量大、有效缓解衍射级次干扰的优点。

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