一种温度场条件下数码相机成像质量实时测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201911310831.8
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2019-12-18
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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专利名称	一种温度场条件下数码相机成像质量实时测量装置
申请号	CN201911310831.8	申请日期	2019-12-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-03-24	公开/公告号	CN110907143A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市长春经济技术开发区东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	聂真威;韩冰;李俊霖;杨永强;袁理;李洪雨;唐延甫;李忠明
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	巴翠昆

摘要

本申请公开了一种温度场条件下数码相机成像质量实时测量装置，包括：具有光学窗口的高低温试验箱，哈特曼波前传感器，目标发生器，准直系统和主控计算机；其中，光学窗口隔离准直系统和位于高低温试验箱内的数码相机；哈特曼波前传感器发射标准球面波束，测量在光学窗口反射回来的波束，得到光学窗口的面形变化数据；目标发生器产生星点或狭缝目标；准直系统将目标变成平行光束，以使平行光束经过数码相机后成星点图像或狭缝图像；主控计算机将面型变化数据通过波前叠加算法叠加至成像质量测试的数据，以对星点图像或狭缝图像进行测试及补偿修正。上述测量装置可以在特定温度场条件下对数码相机成像质量进行实时测试，且对成像失真进行补偿修正。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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