测试固态硬盘Trim性能的方法、装置及计算机设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201810570199.X
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2018-06-05
申请人：
深圳忆联信息系统有限公司

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专利名称	测试固态硬盘Trim性能的方法、装置及计算机设备
申请号	CN201810570199.X	申请日期	2018-06-05
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2018-11-09	公开/公告号	CN108777158A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	深圳忆联信息系统有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区蛇口街道蛇口后海大道东角头厂房D24/F-02 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳忆联信息系统有限公司	当前权利人	深圳忆联信息系统有限公司
发明人	石骁;赵寅初;许刘锐
代理机构	深圳市精英专利事务所	代理人	冯筠

摘要

本发明涉及测试固态硬盘Trim性能的方法、装置及计算机设备，该方法包括设置SSD连接状态，获取自动化测试脚本；根据SSD的参数选择对应的测试模块；根据参数，按照自动化测试脚本内容进行Trim性能测试。本发明通过简化SSD的连接，借助服务器内设置的DriverMaster测试工具设计一种通用的自动化测试脚本，进行Trim性能测试，分别获取空盘和填盘后两种情况下单条Trim和连续Trim多种大小数据的性能，能有效完成固态硬盘Trim性能测试，实现有效提高Trim性能测试覆盖率和效率，降低测试的成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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