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驻极体振膜的制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810172354.9
  • IPC分类号:H04R31/00
  • 申请日期:
    2008-10-31
  • 申请人:
    宏达国际电子股份有限公司
著录项信息
专利名称驻极体振膜的制造方法
申请号CN200810172354.9申请日期2008-10-31
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2010-06-09公开/公告号CN101729971A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04R31/00IPC分类号H;0;4;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人宏达国际电子股份有限公司申请人地址
中国台湾桃园市兴华路23号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人宏达国际电子股份有限公司当前权利人宏达国际电子股份有限公司
发明人李芳庆
代理机构北京润平知识产权代理有限公司代理人周建秋;王凤桐
摘要
本发明提供一种驻极体振膜的制造方法,该制造方法包括下列步骤:首先,将电介质薄膜通过粘结材料贴附在框架上,并将固定件抓附在电介质薄膜上表面的边缘以及框架上;接着,对电介质薄膜进行金属溅射处理,以形成导电材料层;最后,对电介质薄膜进行极化处理,从而制成驻极体振膜。

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