一种压电式小量程大量程比的测力装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201510407918.2
IPC分类号：G01L1/16
申请日期：
2015-07-13
申请人：
大连理工大学

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著录项信息

专利名称	一种压电式小量程大量程比的测力装置
申请号	CN201510407918.2	申请日期	2015-07-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-10-14	公开/公告号	CN104977104A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01L1/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01L 测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力（称量入G01G）〔4〕 G01L1/00 力或应力的一般计量（测量由于冲击产生的力入G01L 5/00）〔4〕 G01L1/16 利用压电器件的性质	IPC分类号	G;0;1;L;1;/;1;6查看分类表>
申请人	大连理工大学	申请人地址	辽宁省大连市甘井子区凌工路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连理工大学	当前权利人	大连理工大学
发明人	贾振元;张军;田雨;任宗金;刘巍
代理机构	大连理工大学专利中心	代理人	关慧贞;梅洪玉

摘要

本发明公开了一种压电式小量程大量程比的测力装置。该测试装置包括压电晶组、紧固螺栓、压板、密封圈、引线接头组成。利用压电晶组作为为力敏元件，具有高灵敏度、高刚度、高固有频率的特点，满足高精度测试的要求。1个X0压电晶组布置在主方向，另外4个晶组Y0布置在两个侧向，分别测试主、侧向的矢量力。利用紧固螺栓分别预紧主、侧向压电晶片，可调整预紧力大小和侧向力量程，解决了主方向力和侧向力的大量程比的测试难题。双向推挽结构的设计避免了外界温度变化对测试精度的影响。测试装置结构简单、便于封装、调整方便，实现了三维动态力的高精度测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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