一种同步辐射X射线显微CT成像样品台

发明专利有效专利

申请号：
CN201410513981.X
IPC分类号：G01N21/84;G01N23/04
申请日期：
2014-09-29
申请人：
中国科学院上海应用物理研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种同步辐射X射线显微CT成像样品台
申请号	CN201410513981.X	申请日期	2014-09-29
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-12-24	公开/公告号	CN104237237A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/84 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人	中国科学院上海应用物理研究所	申请人地址	上海市嘉定区嘉罗公路2019号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海应用物理研究所	当前权利人	中国科学院上海应用物理研究所
发明人	彭冠云;肖体乔;谢红兰;邓彪;杜国浩;佟亚军;薛艳玲
代理机构	上海智信专利代理有限公司	代理人	邓琪

摘要

本发明提供一种同步辐射X射线显微CT成像样品台，包括安装在旋转台上的位移台，所述样品台还包括垂直于所述位移台的表面向外延伸的延长装置；所述延长装置包括固定于所述位移台的表面上的基座，用于承载样品的支架，以及连接在所述基座和所述支架之间的支撑棒。本发明的同步辐射X射线显微CT成像样品台，通过垂直于位移台的表面向外延伸的延长装置使得样品与CCD的距离更加灵活可调，满足对于CCD到样品近距离扫描的要求。

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