一种测试治具新型探针

发明专利有效专利

申请号：
CN201710855106.3
IPC分类号：G01R1/067
申请日期：
2017-09-20
申请人：
上达电子（深圳）股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种测试治具新型探针
申请号	CN201710855106.3	申请日期	2017-09-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-01-19	公开/公告号	CN107607753A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/067 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;6;7查看分类表>
申请人	上达电子（深圳）股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区沙井街道黄埔社区南环路黄埔润和工业园A栋厂房1-4层、D栋2-3层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上达电子（深圳）股份有限公司	当前权利人	上达电子（深圳）股份有限公司
发明人	李鹏;李作鹏;杨洁;梅得军;李晓华
代理机构	北京商专永信知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	许春兰;李彬彬

摘要

本发明公开一种测试治具新型探针，包括测试端部、中部、连接底部和贯穿于测试端部、中部、连接底部的测试针，位于连接底部的测试针的端部连有金属弹簧；探针使用前，需要对FPC焊盘位置进行钻孔，钻孔后将探针置于孔内固定，测试端部的测试针稍微凸出于孔的表面并接触到FPC的测试点，与FPC相连接，起到接触测试导通的作用，连接底部的测试针连有金属弹簧，弹簧的弹性韧性都要强于传统探针自身弹簧特性，对测试针起到缓冲保护作用，对产品不会造成压痕，耐用磨损小，生产率提高，具有良好的弹性，金属弹簧连接在插排上面，插排通过专用数据线与电脑相连接，从而达到测试的效果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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