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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

一种集成电路测试装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201921163103.4
  • IPC分类号:G01R31/28
  • 申请日期:
    2019-07-23
  • 申请人:
    深圳市万阳光电有限公司
著录项信息
专利名称一种集成电路测试装置
申请号CN201921163103.4申请日期2019-07-23
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人深圳市万阳光电有限公司申请人地址
广东省深圳市宝安区大浪街道同胜社区上横朗新工业区二栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市万阳光电有限公司当前权利人深圳市万阳光电有限公司
发明人曾湖明;任明云
代理机构广州市红荔专利代理有限公司代理人黄国勇
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试装置,包括机身、控制按钮、接线口、显示屏和测试口,所述机身内壁上设置有滑动槽,所述滑动槽内部内嵌有滑动块,所述滑动块固定连接有活动板,所述机身后方设置有控制按钮和接线口,所述机身正面右侧设置显示屏,所述机身正面左侧设置有测试口,所述测试口上设置有开关,所述开关底端固定连接有第一转动轴,所述第一转动轴上焊接有第一齿轮。本实用新型通过设置活动板、滑动槽和滑动块,当不使用该装置时,抽出活动板能够防止灰尘进入,避免造成接触不良的情况,通过设置第一齿轮、第一转动轴、第二齿轮和第二转动轴,通过隔板将其分隔,防止两组铜片相互接触。

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