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一种非易失存储器坏块测试方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201710481588.0
IPC分类号：G06F11/22;G11C29/44
申请日期：
2017-06-22
申请人：
上海斐讯数据通信技术有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种非易失存储器坏块测试方法及系统
申请号	CN201710481588.0	申请日期	2017-06-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-11-17	公开/公告号	CN107357696A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;2;;;G;1;1;C;2;9;/;4;4查看分类表>
申请人	上海斐讯数据通信技术有限公司	申请人地址	浙江省金华市义乌市廿三里街道下朱宅村A区63幢2单元501室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	义乌市智享通讯设备有限公司	当前权利人	义乌市智享通讯设备有限公司
发明人	方迪
代理机构	浙江千克知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

一种非易失存储器坏块测试方法及系统，涉及数据闪存技术领域，该方法包括提供一个没有坏块的非易失存储器；标记非易失存储器上至少一个块为坏块；烧录嵌入式软件至非易失存储器；观察嵌入式软件是否正常运行；若嵌入式软件不能正常运行，则检测嵌入式软件不合格。本发明可以提供一个比较好的模拟生产测试方法，预警问题，及时发现及时解决，提高软件的可靠性，节约成本。

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