一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420210236.3
IPC分类号：G01H9/00
申请日期：
2014-04-28
申请人：
中国工程物理研究院流体物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置
申请号	CN201420210236.3	申请日期	2014-04-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01H9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01H 机械振动或超声波、声波或次声波的测量〔4〕 G01H9/00 应用对辐射敏感的装置，例如光学装置，测量机械振动或超声波、声波或次声波	IPC分类号	G;0;1;H;9;/;0;0查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院流体物理研究所	申请人地址	四川省绵阳市919信箱106分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院流体物理研究所	当前权利人	中国工程物理研究院流体物理研究所
发明人	江孝国;王远;李洪;石金水;李劲
代理机构	中国工程物理研究院专利中心	代理人	翟长明;韩志英

摘要

本实用新型提供了一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置，所述的测量装置中的光源发出的光线经透镜产生一个圆柱型平行光束，平行光束经光束成型器的限制而形成需要的长度及宽度合适的矩形平行光束，矩形平行光束分别照射在被测量物体和线阵CCD探测器上，线阵CCD探测器将获得特征位置的电信号输送到测量系统及信号处理系统进行处理，处理结果再送到计算机处理。本实用新型的测量装置结构简单，可靠性高。

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