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天线幅相测试设备

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201721179713.4
  • IPC分类号:G01R29/10
  • 申请日期:
    2017-09-14
  • 申请人:
    深圳市华荣科技有限公司
著录项信息
专利名称天线幅相测试设备
申请号CN201721179713.4申请日期2017-09-14
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R29/10IPC分类号G;0;1;R;2;9;/;1;0查看分类表>
申请人深圳市华荣科技有限公司申请人地址
广东省深圳市龙华区观湖街道锦绣科学园10栋2楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市华荣科技有限公司当前权利人深圳市华荣科技有限公司
发明人江亮
代理机构深圳市凯达知识产权事务所代理人王琦
摘要
本实用新型属于天线测试工具技术领域,公开了天线幅相测试设备,包括测试机柜(1)、XYZ运动探头(2)、拖链(3)、线体(4)和运动控制机柜(5),所述测试机柜(1)与XYZ运动探头(2)电连接,XYZ运动探头(2)固定在拖链(3)上,测试机柜(1)位于拖链(3)的一端,运动控制机柜(5)与拖链(3)电连接,拖链(3)与线体(4)平行设置,运动控制机柜(5)设置在线体(4)的下方,XYZ运动探头(2)具有测试探头和向伸向线体(4)上方的横向延伸部分,测试探头固定在所述横向延伸部分的下端。本实用新型在测试天线时能够降低人工作业强度,提高测试效率。

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