一种面结构光测量系统中图像的编码与解码方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201911155686.0
IPC分类号：G01B11/25;G06T9/00
申请日期：
2019-11-22
申请人：
华中科技大学

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著录项信息

专利名称	一种面结构光测量系统中图像的编码与解码方法
申请号	CN201911155686.0	申请日期	2019-11-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-03-31	公开/公告号	CN110940294A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/25 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率 G01B11/25 通过在物体上投影一个图形，例如莫尔（moiré）条纹（G01B 11/255优先）〔7〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;5;;;G;0;6;T;9;/;0;0查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	李晨;张旭;赵欢;丁汉
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	暂无

摘要

本发明属于光学测量领域，并公开了一种面结构光测量系统中图像的编码与解码方法。该方法包括下列步骤(a)对于面结构光测量系统，设定投影仪各个参数值，建立投影仪投影图像中每个点的卷绕相移坐标和相移的关系式，投影仪结合设定的参数值和上述关系式进行投影，以此实现图像的编码，并获得多个相移图像；(b)相机对相移图像进行拍摄获得多个拍摄图像，建立关系式计算获得拍摄图像中每点对应的卷绕相移和卷绕相位；(c)利用拍摄图像中每点的卷绕相移和卷绕相位获得每个点的像素坐标，以此实现图像的解码。通过本发明，显著降低相移误差向相位反演误差的传播，提高面结构光测量系统提高相移解码精度从而提高三维测量精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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