静电放电耐受能力评价装置和静电放电耐受能力评价方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200780038764.8
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2007-10-17
申请人：
夏普株式会社

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专利名称	静电放电耐受能力评价装置和静电放电耐受能力评价方法
申请号	CN200780038764.8	申请日期	2007-10-17
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2009-09-09	公开/公告号	CN101529263
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	夏普株式会社	申请人地址	广东省深圳市福田区华强北街道华航社区华富路1006号航都大厦1437 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳通锐微电子技术有限公司	当前权利人	深圳通锐微电子技术有限公司
发明人	下村奈良和;三本敏雄;上山浩一
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	闫小龙;王忠忠

摘要

具有施加装置(10)和公共连接部(51)。其中，上述施加装置(10)施加脉冲电荷，包括：第1连接部(15)，可与源极驱动器(120)的输入端子或输出端子连接，并对源极驱动器(120)施加电荷；以及第2连接部(16)，可连接不同于上述与第1连接部(15)连接的端子的端子，并且，第2连接部(16)所连接的端子可接地。上述公共连接部(51)可与源极驱动器(120)的多个输出端子连接，并使得该多个输出端子彼此电连接。源极驱动器(120)的输出端子通过公共连接部(51)与第1连接部(15)或第2连接部(16)连接。上述结构能够更好地再现半导体器件的故障状况，从而对半导体器件的静电放电耐受能力进行评价。

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