一种球面近场天线测量方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201710676154.6
IPC分类号：G01R29/10
申请日期：
2017-08-09
申请人：
西安电子科技大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种球面近场天线测量方法及系统
申请号	CN201710676154.6	申请日期	2017-08-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-01-26	公开/公告号	CN107632208A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量 G01R29/10 天线的辐射图〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;0查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市太白南路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	袁浩波;侯建强;吴征国
代理机构	北京众达德权知识产权代理有限公司	代理人	刘杰

摘要

本发明属于微波测量技术领域，公开了一种球面近场天线测量方法，包括：向待测天线提供测量用信号；分别通过无人飞行设备搭载磁场测量设备在半径为a的第一球面上测量第一磁场值以及在半径为b的第二球面上测量第二磁场值；基于所述第一磁场值和所述第二磁场值，通过球面近远场变换算法得到球面波展开系数；依据所述球面波展开系数获取天线参数；其中，b大于a。本发明提供一种适应各类大规格天线或者天线阵测量的方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供