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一种控制基座外缘聚焦环温度的组件

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201220328056.6
  • IPC分类号:H01J37/32;H01L21/67
  • 申请日期:
    2012-07-06
  • 申请人:
    中微半导体设备(上海)有限公司
著录项信息
专利名称一种控制基座外缘聚焦环温度的组件
申请号CN201220328056.6申请日期2012-07-06
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J37/32IPC分类号H;0;1;J;3;7;/;3;2;;;H;0;1;L;2;1;/;6;7查看分类表>
申请人中微半导体设备(上海)有限公司申请人地址
上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中微半导体设备(上海)股份有限公司当前权利人中微半导体设备(上海)股份有限公司
发明人彭帆;吴狄;左涛涛
代理机构上海智信专利代理有限公司代理人王洁
摘要
本实用新型公开了一种控制基座外缘聚焦环温度的组件,所述组件位于等离子体处理室内,所述等离子体处理室内包括一基座,用以支撑待加工晶片,所述待加工晶片外缘环绕设置一聚焦环,所述聚焦环下方设置一导热环,所述聚焦环的下表面与所述导热环之间设置第一导热垫,所述导热环与所述基座之间设置第二导热垫。通过在所述聚焦环下方设置多层导热层,最大效率的保证聚焦环的热量快速传递到所述基座上,由于所述基座内部设置有冷却系统,所述聚焦环的热量传递到所述基座后可以被基座内的冷却系统带走,从而可以保持所述基座温度控制在要求范围内。

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