检测真空断路器触头磨损量的方法及其装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200710173152.1
IPC分类号：G01B11/02
申请日期：
2007-12-26
申请人：
上海西屋开关有限公司

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著录项信息

专利名称	检测真空断路器触头磨损量的方法及其装置
申请号	CN200710173152.1	申请日期	2007-12-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-07-01	公开/公告号	CN101469971
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	上海西屋开关有限公司	申请人地址	上海市沪杭公路655号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海西屋开关有限公司	当前权利人	上海西屋开关有限公司
发明人	王桂芝;周庆强;李明忠
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	左一平

摘要

本发明公开了一种检测真空断路器触头磨损量的方法及其装置。本发明在真空断路器的动导电杆的一端上设有反射装置，相对于反射装置的反射面设有入射光源和反射光接收装置，反射光接收装置用于接收由入射光源发出并被反射装置反射后的光束。当触头发生磨损时，引起反射装置的角度位置发生变化，使得从反射装置反射的光束的接收位置也产生变化；测出反射光束的接收位置变化量，并利用触头的磨损量、入射光源、反射光接收装置、以及反射装置之间存在的三角函数关系，通过单片机计算出触头的磨损量并显示在显示单元上。本发明具有操作简单快捷、测量结果显示直观、测量准确度高等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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