X射线吸收测量系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201580033906.6
IPC分类号：G01N23/083;G01T1/16
申请日期：
2015-03-03
申请人：
斯格瑞公司

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著录项信息

专利名称	X射线吸收测量系统
申请号	CN201580033906.6	申请日期	2015-03-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-04-26	公开/公告号	CN106605140A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/083 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/05 利用中子〔3〕 G01N23/083 辐射是X射线〔5，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;8;3;;;G;0;1;T;1;/;1;6查看分类表>
申请人	斯格瑞公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	斯格瑞公司	当前权利人	斯格瑞公司
发明人	西尔维娅·贾·云·路易斯;云文兵;雅诺什·科瑞;艾伦·弗朗西斯·里昂
代理机构	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司	代理人	桑敏

摘要

本公开提供一种用于x射线吸收精细结构(XAFS)测量的系统，其具有大于现有紧凑系统若干数量级的x射线通量和通量密度。其适用于x射线吸收近边光谱(XANES)或者延伸式x射线精细吸收结构(EXFAS)光谱的实验室或现场应用。通过使用x射线靶的设计实现了更高的亮度，x射线靶包括多个对准的x射线产生材料的微结构，这些微结构被制成与具有高热导率的基板成密切热接触。这允许利用更高电子密度和/或更高能量的电子进行轰击，导致更大的x射线亮度和高通量。高亮度x射线源耦合到用于使x射线准直的x射线反射光学系统和单色器，单色器选择适当暴露能量。使用高通量单色x射线的样品的吸收光谱可以使用标准检测技术而得到。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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