测试管脚虚焊的装置及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510108131.2
IPC分类号：G01R31/02;G01R31/00
申请日期：
2005-09-29
申请人：
华为技术有限公司

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专利名称	测试管脚虚焊的装置及测试方法
申请号	CN200510108131.2	申请日期	2005-09-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-10-18	公开/公告号	CN1847866
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/02 对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;2;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	华为技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华为技术有限公司	当前权利人	华为技术有限公司
发明人	李大军;陈进文
代理机构	北京同达信恒知识产权代理有限公司	代理人	黄志华

摘要

本发明公开了测试管脚虚焊的装置，用以解决目前专用的测试仪器成本很高的问题。所述装置包括由地表笔(1)、第一电源(2)、参考电阻(Rx)和参考表笔(3)串联而成的第一开路；以及由所述地表笔(1)、与第一电源(2)电压值不同的第二电源(4)和测试表笔(5)串联而成的第二开路；电压表，并联在所述参考电阻(Rx)两端。本发明还公开了另一种测试管脚虚焊的装置。本发明又公开了一种测试管脚虚焊的方法，用以解决目前的操作及测试过程较复杂的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN1464310A	2003-12-31	2002-06-05	万用表检测虚焊和短路故障无效专利	蔡忠贞
2	US4779041A	暂无	1987-05-20	Integrated circuit transfer test device system失效专利	Eddie L. Williamson; Jr.
3	US5489851A	暂无	1994-12-05	Identification of pin-open faults by measuring current or voltage change resulting from temperature change失效专利	John M. Heumann;Ronald J. Peiffer
4	CN1231427A	1999-10-13	1999-03-26	在集成电路检测中识别接触错误的装置失效专利	西门子公司
5	US5578930A	暂无	1995-03-16	Manufacturing defect analyzer with improved fault coverage失效专利	Timothy W. Sheen
6	US5280237A	暂无	1992-03-23	Method for testing semiconductor integrated circuits soldered to boards and use of a transistor tester for this method失效专利	Manfred Buks
7	US2003062916A1	暂无	2002-09-30	Method and apparatus for testing electronic devices失效专利	Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum; vzw
8	CN2590168Y	暂无	2002-12-18	检测装置失效专利	技嘉科技股份有限公司
9	JP2004279152A	暂无	2003-03-14	Solder deficiency diagnosis circuit for semiconductor device有效专利	Bosch Automotive Systems Corp;株式会社ボッシュオートモーティブシステム
10	CN1274889A	2000-11-29	1999-05-24	计算机并行端口上各管脚的开路、接地及短路状况的检测方法失效专利	英业达股份有限公司

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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