在集成电路检测中识别接触错误的装置

发明专利无效专利

申请号：
CN99104425.8
IPC分类号：--
申请日期：
1999-03-26
申请人：
西门子公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	在集成电路检测中识别接触错误的装置
申请号	CN99104425.8	申请日期	1999-03-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	1999-10-13	公开/公告号	CN1231427
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	西门子公司	申请人地址	联邦德国慕尼黑变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西门子公司	当前权利人	西门子公司
发明人	D·萨维格纳;F·维伯;N·维尔斯
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	马铁良;王忠忠

摘要

在集成电路检测中用于识别接触错误的装置，具有多个从集成电路的外壳伸出的管脚，管脚与集成电路的半导体主体上各自的焊点相连接，在各焊点和集成电路的输入端之间的线路上有拉上装置或拉下装置，如果在检测中所属的管脚没有接触，该装置通过保持电流的注入使焊点保持在高或低电势上，避免启动与管脚相连接的电路部分，拉上装置含有第一P沟道MOS晶体管，其位于具有输入缓冲器所在的线路的焊点和一个高电势之间，并且在其栅极施加电压。拉下装置含有第一N沟道MOS晶体管，其位于具有输入缓冲器所在的线路的焊点和低电势之间，且在其栅极施加反向的电压。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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