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基于Elmore延迟时间(EDT)的电阻模型

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201980059905.7
  • IPC分类号:G06F30/39;G06F30/3312;G06F30/398;G06F30/367;G06F16/28;G06F119/12
  • 申请日期:
    2019-09-12
  • 申请人:
    美商新思科技有限公司
著录项信息
专利名称基于Elmore延迟时间(EDT)的电阻模型
申请号CN201980059905.7申请日期2019-09-12
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-05-07公开/公告号CN112771529A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F30/39IPC分类号G;0;6;F;3;0;/;3;9;;;G;0;6;F;3;0;/;3;3;1;2;;;G;0;6;F;3;0;/;3;9;8;;;G;0;6;F;3;0;/;3;6;7;;;G;0;6;F;1;6;/;2;8;;;G;0;6;F;1;1;9;/;1;2查看分类表>
申请人美商新思科技有限公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人美商新思科技有限公司当前权利人美商新思科技有限公司
发明人R·B·艾弗森
代理机构北京市金杜律师事务所代理人傅远
摘要
我们公开了一种集成电路设计工具,用于对诸如栅极、源极、漏极和过孔之类的晶体管的端子的电阻进行建模。使用三维(3D)坐标系在存储器中的数据结构中指定端子的结构。对于所指定的结构中的多个体积元素中的每个体积元素,Elmore延迟时间(EDT)被确定。对于位于栅极端子的面对沟道区域的表面上的多个体积元素中的那些体积元素,平均EDT(aEDT)基于EDT来被确定。端子的点对点电阻值根据aEDT和端子的电容来被生成。

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