通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201710514475.6
IPC分类号：G01N23/223;G01N23/22
申请日期：
2017-06-29
申请人：
苏州浪声科学仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法
申请号	CN201710514475.6	申请日期	2017-06-29
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2017-11-21	公开/公告号	CN107367521A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2查看分类表>
申请人	苏州浪声科学仪器有限公司	申请人地址	江苏省苏州市苏州高新区竹园路209号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州浪声科学仪器有限公司	当前权利人	苏州浪声科学仪器有限公司
发明人	杜亚明
代理机构	苏州知途知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	张锦波

摘要

本发明涉及一种通过X射线荧光光谱法测定玻璃中杂质的方法，包括以下步骤：1)取玻璃纤维标准品和待测玻璃纤维，再将所述玻璃纤维标准品、待测玻璃纤维分别先用混合溶剂混合搅拌均匀后，再滴加碘化氨，得到混合物，然后于10分钟内升温至1100～1300℃，再于1100～1300℃将所述混合物熔融15～25分钟成标准玻璃样片和待测玻璃样片，所述混合溶剂为四硼酸锂和偏硼酸锂的混合溶剂，所述四硼酸锂和偏硼酸锂的质量比为35:65；2)再将所述标准玻璃样片和待检测玻璃样片通过X射线荧光光谱仪进行检测，并根据强度与含量确定线性关系，制作校准曲线，得到玻璃中杂质的含量。本发明的方法的检测灵敏度高，重复性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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