一种光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200820084729.1
IPC分类号：G01N21/39;G01N21/25
申请日期：
2008-03-31
申请人：
杭州电子科技大学

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著录项信息

专利名称	一种光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置
申请号	CN200820084729.1	申请日期	2008-03-31
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/39 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/39 利用可调谐的激光器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;9;;;G;0;1;N;2;1;/;2;5查看分类表>
申请人	杭州电子科技大学	申请人地址	浙江省杭州市江干区下沙高教园区2号大街变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州电子科技大学	当前权利人	杭州电子科技大学
发明人	高秀敏;王健
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	张法高

摘要

本实用新型涉及一种光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置。现有技术结构复杂，不能对薄膜、界面、纳米物质等进行测试。本实用新型的探测部件采用对称结构的柱体或半球体，内部形成光反射腔，外表面镀有高反射膜。探测部件光纤耦合准直器与探测部件位置配合。激光光源和分光镜光纤耦合准直器分别设置在分光镜的两侧。光电探测器与分光镜光纤耦合准直器设置在分光镜的工作面的同一侧面，并且设置在分光镜的反射光方向上。探测部件光纤耦合准直器与分光镜光纤耦合准直器通过光纤连接。本实用新型精细腔构成简单，只有一个光学元件，结构简单稳定，对机械定位要求低，并且光谱分析测量对象能够拓展到薄膜、界面、纳米物质、流体。

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