获取断层摄影和三维表面图像的X射线计算断层摄影装置

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专利名称	获取断层摄影和三维表面图像的X射线计算断层摄影装置
申请号	CN200580045730.2	申请日期	2005-11-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2007-12-26	公开/公告号	CN101094609
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B6/03 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B6/00 用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的（应用在核医疗学方面的测量辐射强度的仪器，如在体内计数的入G01T1/161；用于X光摄影的设备入G03B42/02） A61B6/02 依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的 A61B6/03 用电子计算机处理的层析X射线摄影机（回波层析X射线摄影法入A61B8/14）〔4〕	IPC分类号	A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人	韩国电气研究院	申请人地址	韩国庆尚南道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	韩国电气研究院	当前权利人	韩国电气研究院
发明人	陈承吾;许荣;金钟旭;姜旭;裵秀真
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	杨生平;朱胜

摘要

本发明涉及一种用于从通过用X射线扫描对象而检测的数据获取图像信息的X射线计算断层摄影装置，更为具体地涉及一种用于获取计算断层摄影的图像和固体表面图像的X射线计算断层摄影装置，其能够通过获取对象的断层摄影信息和对象的表面颜色信息以形成对象的断层摄影的图像和三维表面图像，从而向用户提供可视图像。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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