闪存的损坏区块辨识方法、储存系统及其控制器

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专利名称	闪存的损坏区块辨识方法、储存系统及其控制器
申请号	CN200810092333.6	申请日期	2008-04-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-10-28	公开/公告号	CN101567220
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;4;;;G;1;1;C;2;9;/;4;2查看分类表>
申请人	群联电子股份有限公司	申请人地址	中国台湾苗栗县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	群联电子股份有限公司	当前权利人	群联电子股份有限公司
发明人	许智仁;黄意翔
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	蒲迈文

摘要

一种用于闪存的损坏区块辨识方法、储存系统及其控制器。此损坏区块辨识方法包括在编程闪存的区块之后检查所编程的区块是否发生编程错误，以及当所编程的区块连续地发生编程错误时标记此区块为损坏区块。基此，由于在多次发生编程错误下才判定区块为损坏，由此避免误判而延长闪存储存系统的使用寿命。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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