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线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201410205977.7
  • IPC分类号:G01R33/18
  • 申请日期:
    2014-05-15
  • 申请人:
    黑龙江大学
著录项信息
专利名称线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法
申请号CN201410205977.7申请日期2014-05-15
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2014-07-30公开/公告号CN103954922A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R33/18IPC分类号G;0;1;R;3;3;/;1;8查看分类表>
申请人黑龙江大学申请人地址
黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路74号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人黑龙江大学当前权利人黑龙江大学
发明人李彦超;韩雪冰;杨九如;冉玲苓;高扬;杨瑞海;杜军;丁群;王春晖;马立峰;于伟波
代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所代理人岳泉清
摘要
线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法,属于磁致伸缩系数测量领域。为了解决目前磁致伸缩系数的测量方法的测量精度不高的问题。它包括线性调频激光器、第一平面反射镜、薄玻璃板、第二平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、信号处理系统、激励线圈、固定装置和电源电路;利用电源电路对设置在激励线圈中的被测样品加电流,使光电探测器开始接收光束信号,信号处理系统连续采集光电探测器输出的光电流,并对采集到的差频信号进行处理,根据频率与距离之间的关系获得薄玻璃板与第二平面反射镜之间的当前距离,再根据磁致伸缩系数的公式,获得待测样品的磁致伸缩系数。本发明用于测量磁致伸缩系数。

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