线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410205977.7
IPC分类号：G01R33/18
申请日期：
2014-05-15
申请人：
黑龙江大学

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专利名称	线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法
申请号	CN201410205977.7	申请日期	2014-05-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-07-30	公开/公告号	CN103954922A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/12 测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性（涉及磁共振的入G01R 33/20）〔4〕 G01R33/18 磁致伸缩性质的测量	IPC分类号	G01R33/18查看分类表>
申请人	黑龙江大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	黑龙江大学	当前权利人	黑龙江大学
发明人	李彦超;韩雪冰;杨九如;冉玲苓;高扬;杨瑞海;杜军;丁群;王春晖;马立峰;于伟波
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	岳泉清

摘要

线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法，属于磁致伸缩系数测量领域。为了解决目前磁致伸缩系数的测量方法的测量精度不高的问题。它包括线性调频激光器、第一平面反射镜、薄玻璃板、第二平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、信号处理系统、激励线圈、固定装置和电源电路；利用电源电路对设置在激励线圈中的被测样品加电流，使光电探测器开始接收光束信号，信号处理系统连续采集光电探测器输出的光电流，并对采集到的差频信号进行处理，根据频率与距离之间的关系获得薄玻璃板与第二平面反射镜之间的当前距离，再根据磁致伸缩系数的公式，获得待测样品的磁致伸缩系数。本发明用于测量磁致伸缩系数。