高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪

发明专利无效专利

申请号：
CN200510043037.3
IPC分类号：G01J3/26;G01J3/45
申请日期：
2005-07-23
申请人：
中国科学院西安光学精密机械研究所

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专利名称	高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪
申请号	CN200510043037.3	申请日期	2005-07-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-01-24	公开/公告号	CN1900667
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/12 光谱的产生；单色器 G01J3/26 应用多次反射，例如，法布里—珀罗（Fabry-perot）干涉仪，可变干涉滤光器	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;6;;;G;0;1;J;3;/;4;5查看分类表>
申请人	中国科学院西安光学精密机械研究所	申请人地址	陕西省西安市友谊西路234号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人	相里斌;苏丽娟;袁艳
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司	代理人	徐平

摘要

一种高稳定度干涉成像光谱仪的成像方法及实现该方法的光谱仪，其准直透镜将来自目标的光转换成平行光束，经分束器后分为反射光束IF和透射光束IT。反射光束IF经转镜和角反射器多次反射后回到分束器，由傅立叶透镜会聚到探测器，形成第一束光的光程。透射光束IT经角反射器和分束器多次反射后回到分束器，由傅立叶透镜会聚到探测器，形成第二束光的光程。两束光到达探测器时产生光程差，在探测器上产生干涉光谱图。干涉光谱图经计算机处理系统傅立叶变换，得到复原的目标图像。本发明解决了背景技术只能对单象素取样，或系统结构复杂、稳定性差等技术问题，其实时性好，尤适于对大目标的大面积扫描。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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