一种用于TO-252二极管封装的老炼试验装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201721724277.4
IPC分类号：G01R1/04
申请日期：
2017-12-12
申请人：
贵州航天计量测试技术研究所

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著录项信息

专利名称	一种用于TO-252二极管封装的老炼试验装置
申请号	CN201721724277.4	申请日期	2017-12-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	贵州航天计量测试技术研究所	申请人地址	贵州省贵阳市小河区红河路7号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	贵州航天计量测试技术研究所	当前权利人	贵州航天计量测试技术研究所
发明人	张运坤;肖瑞权;杨晓东
代理机构	贵阳中新专利商标事务所	代理人	商小川

摘要

本实用新型公开了一种用于TO‑252二极管封装的老炼试验装置，它包括有底板，所述底板为长方体形状，底板的背面中心有一排若干的圆孔，底板的正面中心有一凹槽，所述凹槽与圆孔相对，底板的两端分别设有一块铝块一和铝块二，所述铝块一和铝块二通过螺栓与底板连接。它是一种无盖板，底座可通风，通过器件自身引脚组成串联模式的二极管老化试验夹具，解决了TO‑252封装二极管老化试验中因为散热不良从而导致损坏器件或者烧毁老化试验板的问题，取得了较好的使用效果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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