一种全场X射线成像系统及成像方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610130464.3
IPC分类号：G01N23/04;G01N23/223
申请日期：
2016-03-08
申请人：
中国科学院上海应用物理研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种全场X射线成像系统及成像方法
申请号	CN201610130464.3	申请日期	2016-03-08
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-07-27	公开/公告号	CN105806860A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	中国科学院上海应用物理研究所	申请人地址	上海市嘉定区嘉罗公路2019号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海应用物理研究所	当前权利人	中国科学院上海应用物理研究所
发明人	邓彪;杜国浩;佟亚军;陈荣昌;丰丙刚;肖体乔
代理机构	上海智信专利代理有限公司	代理人	邓琪;杨希

摘要

本发明涉及一种全场X射线成像系统及成像方法，其中所述系统包括：X射线光源；铅准直器，其对所述X射线光源输出的X射线进行限束以输出X射线锥束；设置在所述铅准直器输出侧的用于放置样品的样品台；X射线成像探测器，其探测从所述样品透射出的X射线，并获得一组X射线显微CT投影数据；X射线成像光谱仪，其探测所述样品激发出的特征X射线荧光，并获得一组X射线荧光CT投影数据；以及与所述X射线成像探测器和所述X射线成像光谱仪连接的数据处理装置。采用本发明可以同时实现X射线荧光CT与显微CT全场成像，获得样品中元素三维分布及内部结构信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供