功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的标定方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110032429.9
IPC分类号：G01R1/067;G01R1/073;G01R31/26;G01R35/00
申请日期：
2020-07-01
申请人：
强一半导体（苏州）有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的标定方法
申请号	CN202110032429.9	申请日期	2020-07-01
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-23	公开/公告号	CN112698064A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/067 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;6;7;;;G;0;1;R;1;/;0;7;3;;;G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	强一半导体（苏州）有限公司	申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区东长路18号39幢2楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	强一半导体（苏州）有限公司	当前权利人	强一半导体（苏州）有限公司
发明人	赵梁玉;王艾琳;王兴刚;周明
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的标定方法属于半导体器件测试技术领域；该方法首先标定环形磁铁与圆形磁铁之间磁力和距离关系，设定气体压强阈值，测量圆形磁铁和密封垫的质量和；然后用压强阈值乘以连接件阶梯瞳孔中上部通孔横截面积，加上圆形磁铁和密封垫的质量和乘以重力加速度，得到磁力计算结果；根据磁力和距离之间的关系，和磁力计算结果，得到环形磁铁与圆形磁铁之间距离；再倒置调整件，将环形磁铁套在接触端上，并旋拧磁铁固定端，固定环形磁铁；最后正置调整件，调整件的接触端旋拧入泄压孔中；本发明应用于功率器件测试探针卡，能够同时抑制高电压环境下探针之间非正常放电和高温度环境下探针卡翘曲变形和探针位置漂移。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供