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一种晶元裸视检测装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201420402896.1
  • IPC分类号:G01N21/95;H01L21/66
  • 申请日期:
    2014-07-21
  • 申请人:
    京隆科技(苏州)有限公司
著录项信息
专利名称一种晶元裸视检测装置
申请号CN201420402896.1申请日期2014-07-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/95IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;9;5;;;H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人京隆科技(苏州)有限公司申请人地址
江苏省苏州市工业园区凤里街168号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人京隆科技(苏州)有限公司当前权利人京隆科技(苏州)有限公司
发明人杨军
代理机构北京华夏博通专利事务所(普通合伙)代理人刘俊
摘要
本实用新型公开了一种晶元裸视检测装置,其设置于用于检测晶元的工作桌上,所述工作桌上设有一用于承载所述晶元的承载机构,所述晶元放置于所述承载机构上,该晶元裸视检测装置包括一内部黑暗的暗室和上照式的冷白色的LED光源,所述暗室架设于所述工作桌上,并将所述承载机构圈设于其中,所述暗室的一面开设有一容许检测人员检测的开口,所述LED光源设置于所述暗室内的上端部。本实用新型结构简单合理,通过暗室中的LED光源照射晶元,在晶元表面不平整的地方产生漫发射,可以提高裸视检出的能力;且因检测环境为黑色,光线不会在其表面发生反射,因而杜绝了反射光线对产品检测的影响。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供