一种自反射式红外发射率及温度测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201911170033.X
IPC分类号：G01J5/00;G01J5/52
申请日期：
2019-11-26
申请人：
闽南科技学院

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著录项信息

专利名称	一种自反射式红外发射率及温度测量装置
申请号	CN201911170033.X	申请日期	2019-11-26
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2020-03-27	公开/公告号	CN110926614A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;0;0;;;G;0;1;J;5;/;5;2查看分类表>
申请人	闽南科技学院	申请人地址	福建省泉州市南安市康美镇闽南科技学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	闽南科技学院	当前权利人	闽南科技学院
发明人	潘亚文;吴春法;张荣辉;李宏华
代理机构	北京天盾知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种自反射式红外发射率及温度测量装置，本发明包括第一红外探测器、半透半反镜、第二红外探测器、旋转遮板、入射光系统、放大器、A/D转换器、键盘、显示器、触控器和MCU处理器，本发明不需要人工设置物体的参考发射率，对部分物体其测量精度较高，键盘及显示设置在装置的侧面。由于此测温装置结构简单、轻巧，且不用手动设置参考发射率，因此，利于在实际工业生产物体的测量，尤其适于表面光滑的物体。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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