一种高精度欠采样测频方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201511021008.7
IPC分类号：G01R23/02;G01R23/16
申请日期：
2015-12-30
申请人：
中国航天时代电子公司

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著录项信息

专利名称	一种高精度欠采样测频方法
申请号	CN201511021008.7	申请日期	2015-12-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-04-20	公开/公告号	CN105510706A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R23/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R23/00 测量频率的装置；频谱分析装置 G01R23/02 频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置	IPC分类号	G;0;1;R;2;3;/;0;2;;;G;0;1;R;2;3;/;1;6查看分类表>
申请人	中国航天时代电子公司	申请人地址	北京市海淀区永丰产业基地永捷北路3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国航天时代电子公司	当前权利人	中国航天时代电子公司
发明人	卢浩;何俊波;孙恒;程彦汇;关巍巍;杨敏楠;孟宪超;卜君祥;王崇;张奇;李静;于林友
代理机构	中国航天科技专利中心	代理人	陈鹏

摘要

一种高精度欠采样测频方法，首先对信号进行信道折叠，将输入信号根据按照采样频率均匀折叠在多个信道通路上，随后通过相位控制将各信道的信号按照傅里叶变换的计算长度对信道信号进行截取，通过使用不同采样频率的AD进行采样得到各个通道的采样值，然后对各个通道采集信号进行傅里叶变换，得到傅里叶变换结果后分别通过相位判断得到对应谱线位置，再使用谱线校正方法对谱线结果进行校正，得到各个通道频率结果，最后得到各个信道频率进而得到最后的估计频率。本发明方法通过使用多个低速AD替代了原有的需要高速AD的场合，相比直接使用这种位数的高速AD，提高了采样的分辨率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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