直接投射式光电挠度位移测量装置

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专利名称	直接投射式光电挠度位移测量装置
申请号	CN01206766.0	申请日期	2001-07-07
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	重庆大学	申请人地址	重庆市沙坪坝区重庆大学光电工程学院（A区）变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆大学	当前权利人	重庆大学
发明人	朱永;陈伟民;黄尚廉;符欲梅
代理机构	重庆创新专利事务所有限公司	代理人	张先芸

摘要

直接投射式光电挠度位移测量装置，包括光发射源、光接收器两部分，光接收器为组合结构，由光电接收靶与硬件处理电路组成并设置在同一壳体内由信号线连接成一体；光电接收靶由接收屏、近场透镜、光电阵列探测器组成；硬件处理电路采用数字芯片的模块化结构电路板。它具有结构简单、成本低、不受距离和灰尘的影响等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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