一种环件自动化多频阵列超声无损检测装置及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201711004023.X
IPC分类号：G01N29/06
申请日期：
2017-10-24
申请人：
武汉理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种环件自动化多频阵列超声无损检测装置及方法
申请号	CN201711004023.X	申请日期	2017-10-24
法律状态	驳回	申报国家	暂无
公开/公告日	2018-03-20	公开/公告号	CN107817296A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/06 内部的显像，例如，声显微技术〔4，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;6查看分类表>
申请人	武汉理工大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞狮路122号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉理工大学	当前权利人	武汉理工大学
发明人	汪小凯;王彬;华林;钱东升;何溪明;张勇
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	唐万荣;王淳景

摘要

本发明公开了一种环件自动化多频阵列超声无损检测装置及方法，该装置包括收集槽、回转检测平台、沿回转检测平台轴向移动的外圆面多频探头阵列、沿回转检测平台径向移动的端面多频探头阵列、多通道超声检测仪、工控机以及控制柜；所述外圆面多频探头阵列包括多列频率不同的探头，用于检测环件径向不同深度的缺陷，所述端面多频探头阵列包括多列频率不同的探头，用于检测环件轴向不同深度的缺陷。本发明利用多频阵列探头实现环件内部缺陷的自动分层检测，具有效率高、操作简单、检测盲区小、检测精度高、适应性强等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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