加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

大口径取样光栅取样率的测试装置及测试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201110311551.6
  • IPC分类号:G01M11/02;G01J1/00
  • 申请日期:
    2011-09-28
  • 申请人:
    中国科学院西安光学精密机械研究所
著录项信息
专利名称大口径取样光栅取样率的测试装置及测试方法
申请号CN201110311551.6申请日期2011-09-28
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2013-04-10公开/公告号CN103033340A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;J;1;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院西安光学精密机械研究所申请人地址
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院西安光学精密机械研究所当前权利人中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人陈永权;赵建科;段亚轩;李霞;李坤;赛建刚
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司代理人姚敏杰
摘要
本发明涉及一种大口径取样光栅取样率的测试装置及测试方法,该大口径取样光栅取样率的测试装置包括激光器、分束镜、第一积分球功率计、第二积分球功率计、用于对大口径取样光栅进行扫描的二维扫描镜组以及控制与采集处理系统;分束镜设置于激光器的出射光路上;第一积分球功率计置于经分束镜的透射光路上;二维扫描镜组置于经分束镜的反射光路上;第二积分球功率计置于经二维扫描镜组后透过被测取样光栅的-1级衍射光路上;第一积分球功率计以及第二积分球功率计分别与控制与采集处理系统相连。本发明提供了一种可解决大口径取样光栅取样率的测试问题,并很好的保证了测试精度的大口径取样光栅取样率的测试装置及测试方法。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供