单板测试方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201410568798.X
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2014-10-22
申请人：
中兴通讯股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	单板测试方法及装置
申请号	CN201410568798.X	申请日期	2014-10-22
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2016-05-18	公开/公告号	CN105588989A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中兴通讯股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中兴通讯股份有限公司	当前权利人	中兴通讯股份有限公司
发明人	郭娜;张凯
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	王晓婷

摘要

本发明实施例公开了一种单板测试方法及装置，所述方法包括：被测设备从主控获取命令码及器件配置文件，解析所述器件配置文件而获取器件信息，为每一命令码建立相应的器件的单链表；所述被测设备接收到所述主控发送的测试消息后，解析所述测试消息，从所述测试消息中获取当前测试项对应的命令码，并根据所获取的命令码确定所述当前测试项对应的器件的单链表，根据所述当前测试项对应的器件的单链表打印器件，并对所述当前测试项对应的器件的单链表中每一器件执行相应的测试，记录测试结果并将所述测试结果向所述主控发送。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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