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一种形位公差检测工具

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201220657648.2
  • IPC分类号:G01B5/00;G01B5/20
  • 申请日期:
    2012-12-03
  • 申请人:
    上海环讯实业有限公司
著录项信息
专利名称一种形位公差检测工具
申请号CN201220657648.2申请日期2012-12-03
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B5/00IPC分类号G;0;1;B;5;/;0;0;;;G;0;1;B;5;/;2;0查看分类表>
申请人上海环讯实业有限公司申请人地址
上海市青浦区白鹤镇兴利路152号() 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海环讯实业有限公司当前权利人上海环讯实业有限公司
发明人陈俊铭;刘科平
代理机构上海申新律师事务所代理人竺路玲
摘要
本实用新型公开一种形位公差检测工具,其中,包括:第一支撑架、第二支撑架分别设于固定盘相邻的两侧,杠杆百分表设于固定盘位于第二支撑架相邻的一侧,并与第一支撑架相对,第一支撑架的一侧以及第二支撑架的板件一侧均面向固定盘。通过使用本实用新型一种形位公差检测工具,有效地通过本实用新型对圆盘齿轮形位公差的检测,降低了测试仪器的成本,且方便实用,其结构简单,对操作者的要求也降低了,使其更加普及。

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