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一种安全类芯片的测试电路

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200910243493.0
  • IPC分类号:G06F11/267;G06F21/76
  • 申请日期:
    2009-12-23
  • 申请人:
    北京中电华大电子设计有限责任公司
著录项信息
专利名称一种安全类芯片的测试电路
申请号CN200910243493.0申请日期2009-12-23
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2011-06-29公开/公告号CN102110038A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/267IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;2;6;7;;;G;0;6;F;2;1;/;7;6查看分类表>
申请人北京中电华大电子设计有限责任公司申请人地址
北京市昌平区北七家未来科技城南区中国电子网络安全和信息化产业基地C栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京中电华大电子设计有限责任公司当前权利人北京中电华大电子设计有限责任公司
发明人周鹏;赵贵勇;刘华茂
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明公开了一种应用于安全类芯片的硬件测试电路结构,本硬件测试电路结构包括:下载数据与读出数据两种电路结构。此电路结构支持硬件加密后写入(芯片存储器中)与硬件解密读出,下载数据过程不需要软件加密环节,可提高芯片关键数据的下载与读出校验效率。

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