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一种超滤膜贯通孔径及孔径分布的测试方法及对应的测试装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810153561.3
  • IPC分类号:G01N15/08;G01B21/14;B01D65/10
  • 申请日期:
    2018-02-22
  • 申请人:
    国家海洋局天津海水淡化与综合利用研究所
著录项信息
专利名称一种超滤膜贯通孔径及孔径分布的测试方法及对应的测试装置
申请号CN201810153561.3申请日期2018-02-22
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-08-17公开/公告号CN108414421A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N15/08IPC分类号G;0;1;N;1;5;/;0;8;;;G;0;1;B;2;1;/;1;4;;;B;0;1;D;6;5;/;1;0查看分类表>
申请人国家海洋局天津海水淡化与综合利用研究所申请人地址
天津市南开区科研东路1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人国家海洋局天津海水淡化与综合利用研究所当前权利人国家海洋局天津海水淡化与综合利用研究所
发明人李晓明;张慧峰;刘铮;魏杨扬;赵曼;郭春刚;吕经烈;张雨山
代理机构天津市尚文知识产权代理有限公司代理人张东浩
摘要
本发明公开了一种超滤膜贯通孔径及其分布的测试方法,其方法是膜置于纯水中超声浸润后取出,将其置于膜池,开始湿曲线测试,然后进行干曲线测试,记录不同进气压力下的膜透气流量,当干/湿曲线重合,停止进气,完成孔径测试;然后通过光学法测量膜表观接触角θ*,记录表观接触角随时间的变化,得到平衡接触角θe。根据拉普拉斯方程,得到膜平均孔径。膜孔径分布根据相邻两点干/湿曲线所对应的气体流量计算。本发明以水作为浸润液,与超滤膜相容性好,孔径测量过程不需膜干燥处理,避免膜孔结构的破坏。该方法特别适用于20nm~50nm超滤级孔径,其测量数据准确性高,方法简单,实用性较强。

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