批量自动终端事件测试方法及其系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200910110013.3
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2009-11-06
申请人：
深圳市科陆电子科技股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	批量自动终端事件测试方法及其系统
申请号	CN200910110013.3	申请日期	2009-11-06
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2010-06-02	公开/公告号	CN101718819A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	深圳市科陆电子科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区西丽街道朗山二号路7号航天微电机大厦B座202室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市联创知识产权服务中心	当前权利人	深圳市联创知识产权服务中心
发明人	张军
代理机构	深圳市科吉华烽知识产权事务所	代理人	胡吉科

摘要

本发明提供一种批量自动终端事件测试方法，其包括以下步骤：A物理设置，用于将终端各相电流与功率源进行串联连接，各相电压与功率源进行并联连接；B配置设置，对所述终端、所述功率源，所述模拟表进行相应配置；C建立连接，用于将工作台与所述终端，模拟表以及所述功率源进行连接；D对所述的终端进行检测，检测终端事件是否产生；E形成检测报告。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供