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一种花键套端面尺寸检测系统及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201510113797.0
  • IPC分类号:G01B11/00;G01B11/08
  • 申请日期:
    2015-03-16
  • 申请人:
    武汉大学
著录项信息
专利名称一种花键套端面尺寸检测系统及方法
申请号CN201510113797.0申请日期2015-03-16
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2015-05-27公开/公告号CN104655018A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/00IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;8查看分类表>
申请人武汉大学申请人地址
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉大学当前权利人武汉大学
发明人许贤泽;陈少阳
代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人赵丽影
摘要
本发明涉及一种花键套的端面尺寸的检测系统及方法。该系统主要由CMOS相机、计算机、为此系统编写的特定的检测软件、检测系统的工作台、支架等部分组成,并采用了相机标定技术校正光学系统导致的零件图像畸变,以及图像测量技术实现对零件尺寸的检测,检测结果能够量化、存储及建库管理。该系统可实现花键套端面尺寸的高精度检测,同时大大提高了零件检测速度,系统操作简单,工作台体积小,成本低,特别适合花键套的生产厂家在检测过程中装备使用,也可作为计质检部门、测绘部门等相关行业的检测仪器。

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