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基于图形化测试平台的自动测试系统

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200620162565.0
  • IPC分类号:H04M3/24;H04B17/00
  • 申请日期:
    2006-12-30
  • 申请人:
    中国电子科技集团公司第五十研究所
著录项信息
专利名称基于图形化测试平台的自动测试系统
申请号CN200620162565.0申请日期2006-12-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04M3/24IPC分类号H;0;4;M;3;/;2;4;;;H;0;4;B;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人中国电子科技集团公司第五十研究所申请人地址
上海市武宁路423号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子科技集团公司第五十研究所当前权利人中国电子科技集团公司第五十研究所
发明人詹菲
代理机构上海专利商标事务所有限公司代理人左一平
摘要
本实用新型公开了一种基于图形化测试平台的自动测试系统,用于自动测试仪器的性能;其特点是,自动测试系统包括安装有图形化软件测试平台的测试计算机、至少一台测试仪器、以及自动测试控制设备;测试计算机与自动测试控制设备双向连接;该测试计算机的输出端与至少一台测试仪器的输入端连接;所述各测试仪器的输出端与自动测试控制设备的输入端连接;所述各测试仪器并与被测仪器双向连接,该被测仪器的输出端还与测试计算机的输入端连接。利用测试仪器具有的GPIB接口实现对仪器的操作和控制,通过自动测试控制设备对被测设备各项测试指标信号进行控制切换,实现对被测设备各项指标的自动测试。具有测试精度高,操作简单方便,便于升级的优点。

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