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井下测绘系统

发明公开无效专利
  • 申请号:
    CN201280060242.9
  • IPC分类号:E21B47/09; G01B7/02; E21B47/00
  • 申请日期:
    2012-12-20
  • 申请人:
    韦尔泰克有限公司
著录项信息
专利名称井下测绘系统
申请号CN201280060242.9申请日期2012-12-20
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2014-08-13公开/公告号CN103987919A
优先权11195021.8 2011.12.21 EP优先权号EP20110195021
主分类号E21B47/09IPC分类号E;2;1;B;4;7;/;0;9;;; ;G;0;1;B;7;/;0;2;;; ;E;2;1;B;4;7;/;0;0查看分类表>
申请人韦尔泰克有限公司申请人地址
丹麦阿勒罗德 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人韦尔泰克有限公司当前权利人韦尔泰克有限公司
发明人J·哈伦德巴克
代理机构北京市中咨律师事务所代理人吴鹏; 马江立
摘要
一种用于识别完井中的套管中具有内表面(74)的完井部件(33)的井下测绘系统(100),该井下测绘系统包括:具有纵向工具轴线的磁传感器工具(1),该磁传感器工具包括:检测单元(2),该检测单元包括:用于产生磁场的第一磁体(4),和布置在第一平面(7)中并在与所述第一磁体相距第一距离(d1)处的用于检测磁场变化的第一传感器(5),所述传感器(5)检测磁场的大小和/或方向的变化,产生套管轮廓的测量数据,其中,所述井下测绘系统还包括:包括完井部件的磁性参考数据的参考数据库(34),和将一组测量数据与来自数据库(34)的参考数据进行比较以识别储存在参考数据库中的代表完井部件的大致匹配的一组数据的处理器(35),其中,所述系统还包括用于扫描内表面以识别部件并将代表部件的数据储存在数据库中的部件扫描单元(53)。

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