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试样测量装置以及试样测量系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210126181.3
  • IPC分类号:G01N33/66;G08C17/02
  • 申请日期:
    2012-04-26
  • 申请人:
    爱科来株式会社
著录项信息
专利名称试样测量装置以及试样测量系统
申请号CN201210126181.3申请日期2012-04-26
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-10-31公开/公告号CN102759627A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N33/66IPC分类号G;0;1;N;3;3;/;6;6;;;G;0;8;C;1;7;/;0;2查看分类表>
申请人爱科来株式会社申请人地址
日本京都府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人爱科来株式会社当前权利人爱科来株式会社
发明人汤浅一博
代理机构北京三友知识产权代理有限公司代理人李辉;黄纶伟
摘要
本发明提供能够简化装置的功能、并且促进适当状态下的测量的试样测量系统。并且,提供适于该系统中的使用的试样测量装置。该试样测量装置具有测量部、测量条件判定部以及通信部。测量部进行与试样所包含的特定成分相关的测量。测量条件判定部判定上述测量所需的测量条件适当与否,并且生成包含该测量条件适当与否的判定结果的测量条件数据。通信部通过无线通信发送上述测量条件数据。

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