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芯片的调试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510566200.8
  • IPC分类号:G06F11/26
  • 申请日期:
    2015-09-08
  • 申请人:
    福州瑞芯微电子股份有限公司
著录项信息
专利名称芯片的调试方法
申请号CN201510566200.8申请日期2015-09-08
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2015-11-25公开/公告号CN105095041A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/26IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人福州瑞芯微电子股份有限公司申请人地址
福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人瑞芯微电子股份有限公司当前权利人瑞芯微电子股份有限公司
发明人林涛
代理机构福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙)代理人王美花
摘要
本发明提供一种芯片的调试方法,嵌入式芯片内部将SD卡接口的时钟信号线、命令线以及四根数据线分别作为三种调试接口的6根IO复用;且嵌入式芯片内部有一个微处理器在运行或后台有看门狗单元在运行;SD卡插入情况下,SD驱动将所述6根IO切换成SD卡功能脚;调试时需要拔出SD卡,接上调试接口,通过微处理器修改对应的IO管脚为三种调试接口功能,或因看门狗单元超时未处理而跳转到ROM内,执行ROM内固化的代码,将6根IO强行切换成三种调试接口进行调试;SD卡拔出情况下,SD驱动将所述6根IO切换成三种调试接口的IO功能;之后就能直接进行调试。本发明既节省了板级资源,又能够有效地进行调试。

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