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用于小间距PoP封装结构的焊球

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201410759291.2
  • IPC分类号:H01L23/488
  • 申请日期:
    2014-12-10
  • 申请人:
    华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
著录项信息
专利名称用于小间距PoP封装结构的焊球
申请号CN201410759291.2申请日期2014-12-10
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2015-04-01公开/公告号CN104485318A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/488IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;4;8;8查看分类表>
申请人华进半导体封装先导技术研发中心有限公司申请人地址
江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华进半导体封装先导技术研发中心有限公司当前权利人华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
发明人陈南南
代理机构无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)代理人殷红梅;刘海
摘要
本发明涉及一种用于小间距PoP封装结构的焊球,其特征是:包括铜核/柱,在铜核/柱表面镀覆第一镀层,在第一镀层的表面镀覆第二镀层。所述第一镀层为镍层。所述第二镀层为合金钎料层。所述铜核/柱为椭球形、矩形柱形、圆柱形或圆角矩形柱形。所述焊球为椭球形、矩形柱形、圆柱形或圆角矩形柱形。所述第一镀层的厚度为2~50μm,第二镀层的厚度为2~50μm。本发明所述用于小间距PoP封装结构的焊球,解决了PoP封装堆叠互连的坍塌、偏移问题,并且可以有效减小植球间距,适应电子封装的高度I/O发展需求。

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