一种回归测试方法、装置及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201610042327.4
IPC分类号：G06F11/36
申请日期：
2016-01-21
申请人：
深圳市同创国芯电子有限公司

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著录项信息

专利名称	一种回归测试方法、装置及系统
申请号	CN201610042327.4	申请日期	2016-01-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-06-29	公开/公告号	CN105718371A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/36 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/36 通过软件的测试或调试防止错误〔7〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人	深圳市同创国芯电子有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区高新科技产业园南区科技南八道豪威科技大厦16层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市紫光同创电子有限公司	当前权利人	深圳市紫光同创电子有限公司
发明人	黄秋萍;黄国勇
代理机构	深圳鼎合诚知识产权代理有限公司	代理人	江婷;李发兵

摘要

本发明提供了一种回归测试方法、装置及系统，该方法包括：根据回归测试计划生成测试任务；从测试用例库中查找与测试任务对应的测试项目文件；测试项目文件包括实现测试任务需运行的测试组文件；测试组文件包括测试用例对应的测试规格文件；调用与测试组文件中各测试规格文件对应的测试用例，根据各测试规格文件配置对应测试用例,进行回归测试；管理回归测试的测试结果。通过本发明的实施，该回归测试方法由设备自动运行，实现便利的测试用例维护、大规模的测试用例执行，同时兼顾调试的灵活性、简易性、实时性以及维护的便利性的目的，提高开发和测试效率，解决了现有回归测试存在的效率低下、时间代价大、人力代价大的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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