用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201120115762.8
IPC分类号：G01R23/10
申请日期：
2011-04-19
申请人：
杭州长川科技有限公司

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著录项信息

专利名称	用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路
申请号	CN201120115762.8	申请日期	2011-04-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R23/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R23/00 测量频率的装置；频谱分析装置 G01R23/02 频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置 G01R23/10 通过将频率变换成脉冲序列然后对其计数	IPC分类号	G;0;1;R;2;3;/;1;0查看分类表>
申请人	杭州长川科技有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路1180号华业高科技园3号楼6层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州长川科技有限公司	当前权利人	杭州长川科技有限公司
发明人	钟锋浩
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路，它包括精密DA转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块；所述的精密DA转换模块和输入信号处理模块连接触发模块；所述的触发模块连接高速计数模块；本实用新型与现有技术相比，具有以下明显效果：1、设计合理；2、集成度高；3、参数测量范围宽，由于专用电路中采用了大规模集成电路和高速比较触发器，使参数测试的精度和可测范围大大提高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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