中心对称材料微纳结构器件倍频转换效率测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200610114281.9
IPC分类号：G01M11/00;G01M11/02
申请日期：
2006-11-03
申请人：
中国科学院光电技术研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	中心对称材料微纳结构器件倍频转换效率测试装置
申请号	CN200610114281.9	申请日期	2006-11-03
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-04-25	公开/公告号	CN1952640
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院光电技术研究所	申请人地址	四川省成都市双流350信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院光电技术研究所	当前权利人	中国科学院光电技术研究所
发明人	陈旭南;李海颖
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	贾玉忠;卢纪

摘要

中心对称材料微纳结构器件倍频转换效率测试装置，由激光器、准直扩束系统、偏振片、入射光栏、对准显微镜、承品台、水平角旋转台、多维调整台、倍频光滤光片、遮挡罩、激光功率计和大底台组成，激光器射出的激光通过准直扩束系统、偏振片和入射光栏，由对准显微镜观察经水平角旋转台和多维调整台调整对准射入被测样品，经被测样品倍频后的倍频光，被激光功率计接收并测量显示出倍频光的光强值，再与未放置被测样品和滤光片时检测的光强值相比，可得到倍频转换效率。被测样品的位置由多维调整台和水平角旋转台迅速调整，调整方便，测量精度高，易于应用推广。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供